- 產(chǎn)品概要
- 性能特點(diǎn)
- 技術(shù)參數(shù)
- 適用產(chǎn)品
- 產(chǎn)品視頻
設(shè)備工作原理
被測(cè)試元件通過(guò)振動(dòng)盤振動(dòng)送料,進(jìn)入無(wú)振動(dòng)直線送料系統(tǒng),經(jīng)入料夾傳送至分割器圓盤夾,在測(cè)試工位經(jīng)過(guò)測(cè)試後,再由圓盤夾傳送至相應(yīng)的落料口,電磁閥驅(qū)動(dòng)氣缸開(kāi)夾落料,被測(cè)試元件經(jīng)落料管道進(jìn)入指定的分料箱,不良品落入廢料箱。
設(shè)備簡(jiǎn)介
DT-400三極管高速測(cè)試分選機(jī)是國(guó)內(nèi)首家無(wú)落料等待、機(jī)械與系統(tǒng)測(cè)試一體化、高精度、高效率的自動(dòng)化專利產(chǎn)品。直線送料采用無(wú)振動(dòng)皮帶傳送,速度可達(dá)1000PCS/min。測(cè)試、落料采用分割器圓盤結(jié)構(gòu),速度最高可達(dá)250PCS/MIN。經(jīng)測(cè)試後不同參數(shù)的晶體管,落入事先設(shè)定的落料箱。本分選機(jī)運(yùn)行速度快,性能穩(wěn)定,故障率底。測(cè)試系統(tǒng)是本公司與日本某公司合作研發(fā)的新成果,測(cè)試功能完全。其測(cè)試精度、穩(wěn)定性及兼容性高於目前市場(chǎng)上普遍使用的日本高級(jí)測(cè)試系統(tǒng)。該套設(shè)備每小時(shí)最高產(chǎn)能可達(dá)到15K,成為該行業(yè)最具性價(jià)比的產(chǎn)品。
設(shè)備測(cè)試原理
DT-400三極管測(cè)試分選系統(tǒng)是按國(guó)際有關(guān)晶體管測(cè)試原理和實(shí)驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)--GB4587、GB12300、GJB128A及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ/T10415設(shè)計(jì)制造的。測(cè)試系統(tǒng)采用先進(jìn)的微機(jī)控制技術(shù),在測(cè)試中能對(duì)測(cè)試條件自行設(shè)定,測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分檔,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)及自動(dòng)加功率(加溫)測(cè)試。其測(cè)試擊穿電壓可達(dá)100V,IC測(cè)試電流達(dá)20A。系統(tǒng)還能測(cè)定BVceo、BVcbo的軟硬擊穿特性及HFE的線性度K,對(duì)HFE、Vces和BVceo等主要參數(shù)可用三個(gè)不同測(cè)試條件一次性完成測(cè)試。本系統(tǒng)還可測(cè)試晶體管重要的最大額定電流指標(biāo)參數(shù)IC及△Vbe、Rth等功率性能參數(shù)。系統(tǒng)可測(cè)NPN、PNP和達(dá)林頓晶體管,還可測(cè)可控矽(THYRISTOR)、場(chǎng)效應(yīng)管(VDMOS)、二極管和穩(wěn)壓管。本系統(tǒng)充分考慮了元器件生產(chǎn)企業(yè)的要求,實(shí)現(xiàn)高穩(wěn)定、高速度、高精度三大特點(diǎn),一臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可以同時(shí)連接多臺(tái)機(jī)械手工作,是一臺(tái)功能強(qiáng)大的晶體管綜合測(cè)試系統(tǒng)。測(cè)試系統(tǒng)由微機(jī)控制、程控電壓源、取樣電路和切換電路等幾個(gè)部分組成。微機(jī)根據(jù)設(shè)定條件自動(dòng)調(diào)整程控源,施加於被測(cè)晶體管,再由采樣電路采樣,經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換後,由微機(jī)顯示測(cè)試結(jié)果。